光學解像度

光學解像度^[1]是用來描述光學成像系統解析物體細節的能力。

最為世人所接受的解像度準則是由英國瑞利爵士所提出的瑞利判別準則（Rayleigh criterion），當兩個等強度且不相干的光狹縫亮紋互相靠近而快要重疊時，兩者的光強度疊加之後，中心處亮暗紋的光強度比最亮處的光強度小一些，減小成為約 81% （${\displaystyle {\frac {8}{\pi ^{2}}}\approx 81.14\%}$），如此，恰好可以判斷出來是來自於兩個不同的光狹縫。^[1]

相關條目

• 角解像度
• 平方米每像素
• 解像度
• 1951 USAF分辨力測試圖
• 最小可分辨反差（英語：Minimum resolvable contrast）
• Siemens star（英語：Siemens star）
• Superlens（英語：Superlens）
• 超解像度影像（英語：Super-resolution imaging）

參考文獻

1. Hecht, Eugene. Optics 4th. United States of America: Addison Wesley. 2002: 424. ISBN 0-8053-8566-5 （英語）.