近場掃描光學顯微鏡

近場掃描光學顯微鏡 (NSOM/SNOM)是一個 顯微鏡 技術，用於結構調查，其利用漸逝波的特性打破遠場中繞射極限 。 在SNOM， 激發激光光透過一個直徑小於雷射波長的孔徑聚焦，從而在孔徑的遠端產生消逝場。^[3] 當樣品在短距離地在孔徑下掃描，光學解像度只跟孔徑的直徑有關。 此時，橫向解像度可達20 納米、垂直解像度可達2-5 納米。^[4][5]

近場光學示意圖，繞射光從NSOM的光纖探針出來，此圖可以看到光波長。^[1]

分別使用NSOM(上)和傳統的共軛焦焦顯微鏡 (下)來比較二硫化鉬薄片的光致發光記錄，比例尺長度：1微米。^[2]

如光學顯微鏡、此機制可以用於研究的不同性質，例如 折射率、化學結構和侷域壓力。也可以研究在次波長解像度下的動態特性。

NSOM/SNOM是一種掃描探針顯微鏡.

參考文獻

1. (學位論文). 缺少或|title=為空 (幫助)
2. Bao, Wei; Borys, Nicholas J.; Ko, Changhyun; Suh, Joonki; Fan, Wen; Thron, Andrew; Zhang, Yingjie; Buyanin, Alexander; Zhang, Jie. Visualizing nanoscale excitonic relaxation properties of disordered edges and grain boundaries in monolayer molybdenum disulfide. Nature Communications. 2015, 6: 7993. Bibcode:2015NatCo...6E7993B. PMC 4557266 . PMID 26269394. doi:10.1038/ncomms8993.
3. Germany, WITec Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH, Ulm,. SNOM || WITec. www.witec.de. [2017-04-06]. （原始內容存檔於2021-02-28） （美國英語）.
4. Dürig, U.; et al. Near-field optical scanning microscopy. J. Appl. Phys. 1986, 59 (10): 3318. Bibcode:1986JAP....59.3318D. doi:10.1063/1.336848.
5. Oshikane, Y.; et al. Observation of nanostructure by scanning near-field optical microscope with small sphere probe. Sci. Technol. Adv. Mater. (free access)使用|format=需要含有|url= (幫助). 2007, 8 (3): 181. Bibcode:2007STAdM...8..181O. doi:10.1016/j.stam.2007.02.013.

外部連結

• SNOM Scan Image Gallery. [2019-02-01]. （原始內容存檔於2008-10-02）.