全內反射熒光顯微鏡(total internal reflection fluorescent microscope,TIRFM),利用光線全反射後在介質另一面產生衰逝波的特性,激發熒光分子以觀察螢光標定樣品的極薄區域,觀測的動態範圍通常在200nm以下。因為激發光呈指數衰減的特性,只有極靠近全反射面的樣本區域會產生螢光反射,大大降低了背景光雜訊干擾觀測標的,故此項技術廣泛應用於細胞表面物質的動態觀察。
此條目沒有列出任何參考或來源。 (2024年8月20日) |
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