![cover image](https://wikiwandv2-19431.kxcdn.com/_next/image?url=https://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/0/0f/Scanning_Tunneling_Microscope_schematic.svg/langro-640px-Scanning_Tunneling_Microscope_schematic.svg.png&w=640&q=50)
Microscop cu efect tunel
From Wikipedia, the free encyclopedia
Microscopul cu efect tunel (STM, din engleză Scanning tunneling microscope) este un tip de microscop utilizat pentru a obține imagini de la nivel atomic. Gerd Binnig și Heinrich Rohrer au primit Premiul Nobel pentru Fizică în anul 1986 pentru dezvoltarea acestuia.[1][2][3] STM determină suprafața utilizând un vârf conductor electric, care are capacitatea de a distinge caracteristici mai mici de 0,1 nm și având o rezoluție de adâncime de 0,01 nm (10 pm).[4] Cu alte cuvinte, STM permite observarea și manipularea atomilor individuali. Majoritatea microscoapelor sunt construite pentru a fi utilizate în vid ultra-înalt, la temperaturi apropiate de 0 Kelvin, însă există și tipuri care se pot utiliza la temperaturi de peste 1000 °C.[5][6]
![Thumb image](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/0/0f/Scanning_Tunneling_Microscope_schematic.svg/320px-Scanning_Tunneling_Microscope_schematic.svg.png)