![cover image](https://wikiwandv2-19431.kxcdn.com/_next/image?url=https://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/3/37/STM_basic_diagram.jpg/640px-STM_basic_diagram.jpg&w=640&q=50)
Scanning tunneling mikroskop
From Wikipedia, the free encyclopedia
Avsøkende tunnelelektronmikroskop[1] (engelsk: scanning tunneling microscope) (STM) er et spesielt linjeavsøkende ikke-optisk elektronmikroskop med tilstrekkelig oppløsning til å kunne skille enkeltatomer. Det er overflata som avbildes. Virkemåten beror på den kvantemekaniske tunneleffekten av elektroner fra en spiss, en spisselektrode, som sveiper over en overflate hvor konturene i flata følges med en avstand på 1 nanometer. Instrumentet ble oppfunnet av Gerd Binnig og Heinrich Rohrer i 1982 ved IBM i Zürich. Oppfinnelsen ga dem Nobelprisen i fysikk i 1986.
![Thumb image](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/3/37/STM_basic_diagram.jpg/640px-STM_basic_diagram.jpg)