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走査型電子顕微鏡
電子顕微鏡の一種 / ウィキペディア フリーな encyclopedia
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走査型電子顕微鏡(そうさがたでんしけんびきょう、英語: scanning electron microscope、SEM)は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察する。通常は二次電子像が利用される。透過電子を利用したものはSTEM(走査型透過電子顕微鏡)と呼ばれる。
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![](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/a/a4/Misc_pollen.jpg/640px-Misc_pollen.jpg)
TEMでは主にサンプルの内部、SEMでは主にサンプル表面の構造を微細に観察する。