走査型透過電子顕微鏡透過型電子顕微鏡の1つ / ウィキペディア フリーな encyclopedia 走査型透過電子顕微鏡(そうさがたとうかでんしけんびきょう、Scanning Transmission Electron Microscope、STEM))とは透過型電子顕微鏡の1つ。[1][2]集束レンズによって細く絞った電子線プローブを試料上で走査し、各々の点での透過電子を検出することで像を得る。 微少領域の電子回折や元素分析が可能。また空間分解能は一般的に、収束した電子線のプローブ径で決まる。
走査型透過電子顕微鏡(そうさがたとうかでんしけんびきょう、Scanning Transmission Electron Microscope、STEM))とは透過型電子顕微鏡の1つ。[1][2]集束レンズによって細く絞った電子線プローブを試料上で走査し、各々の点での透過電子を検出することで像を得る。 微少領域の電子回折や元素分析が可能。また空間分解能は一般的に、収束した電子線のプローブ径で決まる。