Vorschlag für Dienstag, 9. Juli 2024: Rasterkraftmikroskop
Das
Rasterkraftmikroskop, auch
atomares Kraftmikroskop oder
Atomkraftmikroskop (
englisch atomic/scanning force microscope; Abkürzungen AFM bzw. SFM, seltener RKM) genannt, ist ein spezielles Raster
sonden
mikroskop. Es ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberflächen
chemie und dient zur mechanischen Abtastung von Ober
flächen und der Messung atomarer Kräfte im Nanometer
bereich. Eine nanoskopisch feine Nadel wird mittels einer Blatt
feder gegen die zu messende Probe gedrückt, und die atomaren Kräfte biegen die Blattf
eder. Diese Aus
lenkung kann mit Licht gemessen werden und damit kann die Kraft berechnet werden, die zwischen den Atomen der Ober
fläche und der Spitze wirkt. Da zwischen der Probe und der Spitze kein Strom fließt, können auch nicht
leitende Proben untersucht werden. Das Mikroskop wurde 1985 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber entwickelt.
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