تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة
من ويكيبيديا، الموسوعة encyclopedia
تبعثر الأشعة السينية بزاوية صغيرة (بالإنجليزية: Small angle X-ray scattering) وتختصر التسمية إلى (SAXS) وهو تقنية تبعثر للأشعة السينية [الإنجليزية]، حيث يسجل التبعثر المرن للأشعة السينية (بأطوال موجات 0,1... 0,2 نانومتر) عند زوايا صغيرة للغاية (عادة بين 0,1 - 10°) إثر سقوطها على عينة غير متجانسة في المجال النانوي. يحتوي هذا المجال الزاوي على معلومات عن شكل وحجم الجزيئات الضخمة، والمسافات الموصفة للمواد المرتبة جزئيا، وحجم الثقوب، ومعلومات أخرى. يمكن لهذه التقنية أن تعطينا معلومات بنيوية عن الجزيئات الضخمة (5-25 نانومتر) ذات المسافات المتكررة في النظم المرتبة جزئيا حتى 150 نانومتر.[1] أما تقنية «تعثر الأشعة السينية بزاوية فائقة الصغر» (USAXS) فيمكنها حل أبعاد أكبر.
تنتمي SAXS و USAXS إلى مجموعة تقنيات حيود الأشعة السينية المستخدمة في توصيف المواد. وفي حالة الجزيئات الضخمة الأحيائية مثل البروتينات، تكون ميزة SAXS على علم البلورات هو عدم الحاجة إلى عينات بلورية. أما طرق مطيافية الرنين المغناطيسي النووي(NMR) فهي تتكفل بالجزيئات الضخمة ذات الكتلة الجزيئية الأكبر (>30000-40000). بسبب التوجه العشوائي للجزيئات المذابة أو المرتبة جزئيا، فإن المتوسك الفراغي يؤدي إلى ضياع المعلومات في SAXS مقارنة بعلم البلورات.
تنبعث الفوتونات فيها وتتبعثر بمرونة من العينة. ولا يجب أن تكون هذه العينة سميكة. يمكن للسوائل أن تختبر. كما يمكن متابعة الظواهر التي تحدث بمقياس النانومتر.
ويمكن لهذا النوع من الأشعة السينية أن يحدث عندما تتفاعل فوتونات الأشعة السينية مع ذرات الجسم، وعند تصوير الأشعة السينية (تصوير إشعاعي). الانحرافات الناتجة من مدى جودة الصورة تنتج من تقلييل مدى تباينها.