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Transmission Electron Aberration-corrected Microscope
来自维基百科,自由的百科全书
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扫描透射电子显微镜
扫描透射电子显微镜(英語:Scanning
transmission
electron
microscope
;縮寫為STEM)是利用电磁透镜把电子束会聚成非常小的束斑在薄样品上进行逐点扫描,并利用探测器收集透过样品的散射电子进行成像的一种显微镜技术。其为透射电子显微镜(TEM)的一种,与传统TEM的
电子
keV的電子,分辨率大約為0.0037奈米。像差修正穿透式電子顯微鏡(英语:
Transmission
Electron
Aberration
-
corrected
Microscope
)能夠將分辨率降到低於0.05奈米,能夠清楚地觀測到個別原子。這能力使得電子顯微鏡成為,在實驗室