Cryo-electron microscopy

低温电子显微技術（英語：Cryogenic electron microscopy，缩写：cryo-EM），是穿透式电子显微镜（TEM）的其中样品在超低温（通常是液氮温度-196℃）下进行型態研究的一种技术。此種儀器一般稱為低温电子显微镜（簡稱：低溫電鏡）或冷凍電子顯微鏡（簡稱：冷凍電鏡）。

Rottier, Peter J. M.; DiMaio, Frank; Rey, Félix A.; Veesler, David. Cryo-electron microscopy structure of a coronavirus spike glycoprotein trimer. Nature. 2016

维基共享资源上的相关多媒体资源：透射电子显微镜 維基教科書中的相關電子教程：Electron_microscopy#Transmission_electron_microscopy_.28TEM.29 The National Center for Electron Microscopy, Berkeley California USA

Z衬度像，意味着图像衬度能直接反应对应原子柱的原子序数相对大小。其与传统的高分辨电子显微镜（英语：high-resolution electron microscopy）（HRTEM）像相比，像衬度更容易解释。 在STEM中，明场成像模式是采用一个轴向明场检测器置于透射束光锥中心位置，形成一个与环

假如观察的是透过样本的扫描电子的话，那么这种显微镜被称为扫描透射电子显微镜（Scanning Transmission Electron Microscopy，STEM）。 冷冻电镜，就是用于扫描电镜的超低温冷冻制样及传输技术（Cryo-SEM）可实现直接观察液体、半液体及对电子束敏感的样品，如生物、高分子材料等。样品经过超低