X射线荧光光谱仪维基百科,自由的 encyclopedia X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线撞击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品[1],例如油画[2]和壁画。 水泥厂品质控制实验室中的飞利浦 PW1606 X射线荧光光谱仪,带有样品自动化样品进料
X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线撞击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品[1],例如油画[2]和壁画。 水泥厂品质控制实验室中的飞利浦 PW1606 X射线荧光光谱仪,带有样品自动化样品进料