里特沃尔德精修
晶体表征技术 / 维基百科,自由的 encyclopedia
里特沃尔德精修(Rietveld refinement),简称里特沃尔德法(Rietveld method)[1],是由荷兰晶体学家雨果·里特沃尔德(英语:Hugo M. Rietveld)提出的一种晶体材料表征技术,是全谱拟合法的一种。根据实验测得的多晶衍射数据全谱信息,利用物质的晶体结构参数(晶胞参数、原子坐标等)和非结构参数(峰宽、择优取向因子等)信息模拟计算并利用非线性最小二乘法不断拟合接近实验谱图,从而得到晶体结构信息的方法[2][3]。
里特沃尔德精修还有里特沃尔德全谱拟合(Rietveld whole pattern fitting)、里特沃尔德图谱拟合(Rietveld profile fitting)、里特沃尔德结构精修(Rietveld structure refinement)等其他名称[4][5]。