干涉测量术
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干涉测量术[1][2](英语:interferometry)又称干涉量度学,简称干涉术、干涉法,是通过由波的叠加(通常为电磁波)引起的干涉现象来获取信息的技术[3];其将载有被测物信息的探测光与参考光干涉,形成空域或者时域干涉条纹,从而实现光传感、光学计量和各种光学测试技术。例如:进行精密距离和时间的测量。
干涉术这项技术对于天文学、光纤、工程计量、光学计量、海洋学、地震学、光谱学及其在化学中的应用、量子力学、核物理学、粒子物理学、 等离子体物理学、遥感、生物分子间的相互作用(英语:Interactome)、表面轮廓分析、微流控、应力与应变的测量、测速以及验光等领域的研究都非常重要。[4]:1–2
干涉仪(interferometer)广泛应用于科学研究和工业生产中对微小位移、折射率以及表面平整度的测量。在干涉仪中,从单个光源发出的光会分为两束,经不同光路(英语:Optical path),最终交汇产生干涉。所产生的干涉图纹能够反映两束光的光程差。在科学分析中,干涉仪用于测量长度以及光学元件的形状,精度能到纳米级。它们是现有精度最高的长度测量仪器。在傅里叶变换光谱学中,干涉仪用于分析包含与物质相互作用发生吸收或散射信息的光。天文学干涉仪(英语:astronomical interferometer)由两个及以上的望远镜组成,它们的信号汇合在一起,结果的分辨率与直径为元件间最大间距的望远镜的相同。