拉撒路效應（英語：Lazarus effect）：半導體探測器在高能粒子等輻射環境下應用時，體內產生許多間隙原子和空位；由於它們捕獲信號中的電子和空穴過多而不能使用。但約在-143攝氏度下，又能重新恢復性能和應用。這種現象，稱為拉撒路效應。這種效應是1997年瑞士伯爾尼大學的維托里奧·帕爾邁和庫爾特·波萊等人發現的[1]。他們對這效應還做了如下的解析：
半導體探測器室溫下在高能粒子等輻射作用下，體內出現許多缺陷，捕獲信號的電子和空穴；後把它們發射回導帶或價帶；但所需時間要比探測器的讀出時間長。結果，使讀出信號比應有信號小許多，使信/噪比過小而不能使用。 但在低溫下，探測器由於點陣的低熱能，電子或空穴被局域缺陷捕獲很長時間，這樣，使大部「陷阱」都被佔滿而不起作用。這樣使探測器的信號丟失很少或不丟失。探測器的性能得到恢復而能重新使用。
參考文獻
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