太赫茲非破壞檢測（Terahertz nondestructive evaluation），是一種應用太赫波域電磁輻射設備進行檢測、分析及評估的技術。這些裝置和技術可用來評估材料、元件或系統的性質，而不會對它們造成損傷。[1]
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太赫茲成像是一種新興和受到重視的非破壞檢測技術。在製藥、生物醫學、安全、材料科學及航空航天等行業裏，用於電介質（不導通，即絕緣體）材料分析和品質控制[2]。它已經被證實可以有效檢查顏料與被覆的分層[3] 、偵測陶磁與複合材料的缺陷 [4]，以及斷層掃瞄畫作與手稿的物理結構[5][6][7]。使用THz波於非破壞性評估，可進行多層結構體的檢查，並能識別異物、夾雜物、脫粘分層、機械衝擊破壞、熱損傷異常和水或液壓流體的侵入[8]。
參考文獻
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