邊界掃描

邊界掃描（英語：Boundary scan）是一種檢查印刷電路板上的連線或是積體電路中模組的方式。邊界掃描也可以當作是一種調試的方式。

聯合測試工作組（JTAG）是於1985年由電子工業協會訂定的驗證設計和測試其電路的方法，在1990年成為IEEE1149.1-1990文檔。在1994年時增加了一份附件，其中定義了邊界掃描描述語言，用以描述IEEE 1149.1相容設備的邊界掃描邏輯定義。從那時開始，這個標準被全球的電子企業廣泛採用。邊界掃描幾乎成為了JTAG的同義詞。^[1][2]

偵錯

邊界掃描的架構有助於軟件設計師及硬件工程師開發嵌入式系統，JTAG測試埠本身也可以當成低速的邏輯分析儀。

相關條目

• 自動光學檢查（AOI）
• 自動X光檢查（英語：Automated x-ray inspection）（AXI）
• 在線測試（ICT）
• 機能測試（參照驗收測試）
• JTAG

參考資料

1. IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primer （頁面存檔備份，存於互聯網檔案館） Chapter 3 covers boundary scan with JTAG, and other chapters are also informative.
2. The Embedded Plan For JTAG Boundary Scan 互聯網檔案館的存檔，存檔日期2008-12-01. presents an overview, circa 2008.

外部連結

• Official IEEE 1149.1 Standards Development Group Website （頁面存檔備份，存於互聯網檔案館）