field emission microscope

ion beam）設備。1973年起公司名稱簡稱為FEI公司。1978年研究場發射顯微鏡（英语：Field-emission microscopy）及電子源的科學家喬恩．奧爾洛夫（英语：Jon Orloff）加入合夥，成為第四位合夥人。林伍德．斯旺森是俄勒岡研究生中心（英语：Oregon

扫描电子显微镜（英語：Scanning Electron Microscope，缩写为SEM），简称扫描电镜，是一种通过用聚焦电子束扫描样品的表面来产生样品表面图像的电子显微镜。 显微镜电子束通常以光栅扫描（英语：Raster scan）图案扫描。电子与样品中的原子相互作用，产生包含关于样品的表面测

发光也被用作探针，对平面介电光子晶体和纳米结构光子材料的局部态密度进行测量。 阴极发光显微镜（英语：Cathodoluminescence microscope） 电子激发冷光技术（英语：Electron-stimulated luminescence） 冷发光 光致发光 扫描电子显微镜 Mitsui

0 {\displaystyle {\mathcal {E}}_{0}} 都是正常數。 在材料學裡，場致發射顯微鏡（英语：field emission microscope）被用來觀測分子表面的結構與電子性質。 隧道結是由兩個導體與夾在它們中間的薄絕緣體所組成。根據經典電磁學的定律，電流無法通過

Müller, Erwin W.; Panitz, John A., McLane, S. Brooks. The Atom-Probe Field Ion Microscope. Review of Scientific Instruments. 1968, 39 (1): 83–86. Bibcode:1968RScI