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鄭天佐
"Metallurgica", (1972) with the title "Atomic Microscopy"。 T. T. Tsang, "Atom-Probe Field Ion Microscopy, Field Ion Emission and Surfaces and Interfaces at
Peter Grütter. Implementation of atomically defined Field Ion Microscopy tips in Scanning Probe Microscopy (PDF). Nanotechnology. 2012, 23 [2019-07-17]. doi:10
與生產穿透式電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡以及聚焦離子束（英语：Focused ion beam）設備。1973年起公司名稱簡稱為FEI公司。1978年研究場發射顯微鏡（英语：Field-emission microscopy）及電子源的科學家喬恩．奧爾洛夫（英语：Jon
transmission electron microscopy: A review of high angle annular dark field and annular bright field imaging and applications in lithium-ion batteries. 中国物理B（英文版）
TEM还配有对试样进行在观察中原位加热/变形的装置，可以直接对位错的运动进行实时观察。 场离子显微镜（英语：Field ion microscopy）（field ion microscopy，简称FIM）和原子探针（英语：atom probe）（atom probe）技术提供了放大倍数更高（一般在