低溫電子顯微鏡維基百科,自由的 encyclopedia 低溫電子顯微技術(英語:Cryogenic electron microscopy,縮寫:cryo-EM),是穿透式電子顯微鏡(TEM)的其中樣品在超低溫(通常是液氮溫度-196℃)下進行型態研究的一種技術[1]。此種儀器一般稱為低溫電子顯微鏡(簡稱:低溫電鏡)或冷凍電子顯微鏡(簡稱:冷凍電鏡)[2]。
低溫電子顯微技術(英語:Cryogenic electron microscopy,縮寫:cryo-EM),是穿透式電子顯微鏡(TEM)的其中樣品在超低溫(通常是液氮溫度-196℃)下進行型態研究的一種技術[1]。此種儀器一般稱為低溫電子顯微鏡(簡稱:低溫電鏡)或冷凍電子顯微鏡(簡稱:冷凍電鏡)[2]。