Dark-field microscopy

暗场显微（英語：Dark-field microscopy）或称暗視野顯微（英語：Dark ground microscopy）描述光學顯微和電子顯微中的一種特殊顯微手法，除去觀測物體以外的光線或電子進入物鏡，使目鏡中觀測到的視野背景是黑的，只有物體的邊緣是亮的，大大增强对比度。利用這個方法能見到小至

环形暗场成像（Annular dark-field imaging）是扫描透射电子显微镜（STEM）的电子束扫描样品后，在样品下方利用环形暗场检测器来收集散射电子的成像方式。 传统透射电子显微镜的暗场成像模式使用一个物镜光阑（objective aperture）来过滤掉透射束，并通过收集未被其过滤

Kondo, Y.; Ikuhara, Y. Dynamics of annular bright field imaging in scanning transmission electron microscopy. Ultramicroscopy. 2010, 32 (7): 903–923. PMID 20434265

1994，第123–124頁 >Slayter, Elizabeth M.; Slayter, Henry S. Light and Electron Microscopy. Cambridge University Press. 1992-10-30 [2020-01-31]. ISBN 978-0-521-33948-3