JTAG
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联合测试工作组(英语:JTAG, Joint Test Action Group),是个工业标准,用于验证设计与测试生产出的印刷电路板功能。
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1990年,JTAG正式由电机电子工程师学会(IEEE)进行文档标准化,编号为IEEE 1149.1-1990。在1994年,加入了补充文档对边界扫描描述语言(BSDL)进行了说明。从那时开始,这个标准被全球的电子企业广泛采用。边界扫描几乎成为了JTAG的同义词。
在设计印刷电路板时,目前最主要用在测试积体电路的副区块,而且也提供一个在嵌入式系统很有用的侦错机制,提供一个在系统中方便的"后门"。当使用一些侦错工具像电路内模拟器用JTAG当做讯号传输的机制,使得程式设计师可以经由JTAG去读取整合在CPU上的侦错模组。侦错模组可以让程式设计师侦错嵌入式系统中的软体。