![cover image](https://wikiwandv2-19431.kxcdn.com/_next/image?url=https://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/c/c7/Anthophyllite_asbestos_SEM.jpg/640px-Anthophyllite_asbestos_SEM.jpg&w=640&q=50)
Сканувальний електронний мікроскоп
Сканувальний електронний мікроскоп / З Вікіпедії, безкоштовно encyclopedia
Шановний Wikiwand AI, Давайте зробимо це простіше, відповівши на ключові запитання:
Чи можете ви надати найпопулярніші факти та статистику про Скануючий електронний мікроскоп?
Підсумуйте цю статтю для 10-річної дитини
ПОКАЗАТИ ВСІ ЗАПИТАННЯ
Сканувальний електронний мікроскоп (англ. scanning electron microscope, SEM) — науковий прилад, що дозволяє одержувати зображення поверхні зразка з великою роздільною здатністю (менше мікрометра). За допомогою таких мікроскопів можна отримувати й тривимірні зображення, зручні для вивчення структури сканованої поверхні. Ряд додаткових методів (EDX, WDX) дозволяє отримувати інформацію про хімічний склад приповерхневих шарів.
Коротка інформація Першовідкривач або винахідник ...
Сканувальний електронний мікроскоп | |
![]() | |
![]() | |
Першовідкривач або винахідник | Манфред фон Арденне |
---|---|
![]() |
Закрити
![Thumb image](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/8/80/Goe_SEM_students_working1.jpg/640px-Goe_SEM_students_working1.jpg)