![cover image](https://wikiwandv2-19431.kxcdn.com/_next/image?url=https://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/8/80/Goe_SEM_students_working1.jpg/640px-Goe_SEM_students_working1.jpg&w=640&q=50)
Растровый электронный микроскоп
микроскоп / Материал из Википедии — свободной encyclopedia
Уважаемый Wikiwand AI, давайте упростим задачу, просто ответив на эти ключевые вопросы:
Перечислите основные факты и статистические данные о Сканирующий электронный микроскоп?
Кратко изложите эту статью для 10-летнего ребёнка
Растровый электронный микроскоп (РЭМ) или сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) (англ. scanning electron microscope, SEM) — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нанометра) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом.
![Thumb image](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/8/80/Goe_SEM_students_working1.jpg/640px-Goe_SEM_students_working1.jpg)
![Thumb image](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/a/a4/Misc_pollen.jpg/640px-Misc_pollen.jpg)
![Thumb image](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/6/6f/Metox.jpg/320px-Metox.jpg)
Современный РЭМ позволяет работать в широком диапазоне увеличений приблизительно от 3—10 раз (то есть эквивалентно увеличению сильной ручной линзы) до 1 000 000 раз, что приблизительно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов.
Сегодня возможности растровой электронной микроскопии используются практически во всех областях науки и промышленности, от биологии до наук о материалах. Существует огромное число выпускаемых рядом фирм разнообразных конструкций и типов РЭМ, оснащённых детекторами различных типов.