История создания и совершенствования конструкции микроскопа охватывает более 400 лет и включает следующие основные этапы:

Thumb
Микроскоп Левенгука XVII века с увеличением до 300 крат.[1]
Thumb
Электронный микроскоп, созданный Эрнстом Руска в 1933 году.
Thumb
Платино-иридиевая игла сканирующего туннельного микроскопа крупным планом.
  • 1986 — Герд Бинниг, Куэйт и Гербер создают сканирующий атомно-силовой микроскоп (Atomic Force Microscope — AFM). Бинниг и Рорер получают Нобелевскую премию за изобретение сканирующего туннельного микроскопа.
  • 1988 — Альфред Церезо, Теренс Годфри, и Джордж Смит[англ.] применили позиционно-чувствительный детектор в зондирующем атомном микроскопе, позволяя с помощью него видеть положение атомов в трёхмерном пространстве.
  • 1988 — Кинго Итайя (Kingo Itaya) изобретает Электрохимический сканирующий туннельный микроскоп[англ.].
  • 1991 — Изобретён Метод силового зондирования Кельвина[англ.] (Метод зонда Кельвина, Kelvin Probe Force Microscopy, KPFM).

Примечания

Wikiwand in your browser!

Seamless Wikipedia browsing. On steroids.

Every time you click a link to Wikipedia, Wiktionary or Wikiquote in your browser's search results, it will show the modern Wikiwand interface.

Wikiwand extension is a five stars, simple, with minimum permission required to keep your browsing private, safe and transparent.