지능 검사

지능검사(智能檢査)는 지능을 측정하기 위한 검사를 말한다. 윌리엄 스턴(William Stern)이 1912년에 그리고 20세기에들어서는 알프레드 비네(Alfred Binet) 및 시어도어 시먼(Theodore Simon) 등이 고안하고 개발하여왔다 .

지능에 관해서는 수많은 학자가 정의를 내리고 있으나 대개 다음과 같은 3종으로 분류할 수가 있다.

추상적 사고력·판단력·추리력 등의 정신능력
학습하는 능력
새로운 장면이나 새로운 문제에의 적응 속도

지능검사에는 개별적 지능검사와 단체적 지능검사가 있다.

개별적 지능검사 - 개별이라고 하는 것은 한 사람씩 개별적으로 검사한다는 의미이며, 시간제한은 하지 않는 것을 원칙으로 한다. 따라서 정밀검사라고도 불리며, 결과가 정확하기 때문에 정신박약아를 위한 특수학급 및 양호학급에 들어가는 것을 판별하는 중요 자료가 된다.
단체적 지능검사 - 개별적 지능검사에서는 시간이 너무 걸리기 때문에 단체적으로 실시하여 시간을 절약하자는 시도이다. 시간제한을 원칙으로 하며, 또 정확성에 있어서 개별적 지능검사에 약간 뒤지지만 보통학급에서 실시하기에는 별 지장이 없다.

학습의 정의가 되는 지능의 작용을 측정하는 일은 교육에 매우 중요하다는 사실을 알 수가 있다. 학습에 있어서 기초적 능력인 지능에 있어서 피교육자는 각기 큰 개인차가 있다. 따라서, 지능의 정확한 평가가 없으면 올바른 교육, 능력에 따른 교육은 기대할 수 없다. 생활기록부의 표준검사 등의 기록란에 지능검사의 결과를 기입하는 것은, 능력에 따른 교육에 있어 지능검사의 결과는 중요하고도 정확한 자료이기 때문이다.^[1]

일반적인으로 이용되는 웩슬러 성인 지능 검사(WAIS)는 법적 참고자료로 가능한 검사로 알려져있다.^[2]^[3] 한편 하워드 가드너(Howard Gardner)의 다중지능이론을 사용하는 다중지능검사가 개발되였으며 또한 창의성에 대한 테스트로 알려진 엘리스 폴 토란스(Ellis Paul Torrance)가 개발한 TTCT(Torrance Tests of Creative Thinking)등이 있다.