オージェ電子分光(オージェでんしぶんこう、Auger electron spectroscopy、AES)は、電子分光のひとつ。
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真空中でX線または電子線を測定対象に照射し、放出されるオージェ電子の速度(運動エネルギー)を分析する。
測定対象は気体分子または固体表面に限られるが、ことに固体では中速電子線の励起深さ、脱出深さが数nm以下に限られるので、最表面の分析手法として最も利用価値が高い。固体表面の清浄度、組成、吸着種、薄膜等の検出・測定に広く用いられている。