פלואורסצנצית קרני רנטגן
ויקיפדיה האנציקלופדיה encyclopedia
פלואורסצנצית קרני רנטגן (XRF) היא פליטה של קרני רנטגן מחומר לאחר שעורר באמצעות קרני רנטגן באנרגיה גבוהה או קרני גמא. התופעה נמצאת בשימוש נרחב לניתוח אלמנטים וכימיה אנליטית, במיוחד באפיון של מתכות, זכוכית, קרמיקה וחומרי בניין, ולמחקר בתחומי הגאוכימיה, זיהוי פלילי, ארכאולוגיה וחפצי אמנות כגון ציורים[1] [2].