קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן

קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן (באנגלית: X-ray crystallography) או עקיפה של קרני רנטגן (באנגלית: X-ray diffraction) היא תחום מחקר שעוסק במציאת מבנה של גבישים, תוך שימוש במדידת התבניות שיוצרות קרני רנטגן לאחר שהן עוברות דרכם. הקרניים עוברות עקיפה בתוך הגביש כתוצאה מהאינטראקציה שלהן עם האטומים, והן משנות את כיוון תנועתן. תבנית ההתאבכות הנוצרת מרמזת על המבנה הפנימי של החומר. באופן זה, השיטה מסייעת לקביעת מבנים מולקולריים ביצורים החיים, תוך הקניית ידע מבני על אתרים פעילים של אנזימים.

דוגמה לתבנית עקיפה של קרני רנטגן שעברו דרך גביש

קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן, בשיטות שלא השתנו הרבה מאז תחילת המאה העשרים, מהווה עד היום כלי מרכזי במדע הקריסטלוגרפיה. השיטה איפשרה תגליות רבות ומשמעותיות, למשל גילוי מבנה ה-DNA. אחד הצילומים הידועים ביותר שנעשה בשיטה זו הוא תצלום 51, צילום של DNA שהיה הגורם המכריע בגילוי המבנה שלו ונעשה על ידי רוזלינד פרנקלין בסוף 1952. חקר מבנהו ופעולתו של הריבוזום, עליו ניתן פרס נובל לכימיה לשנת 2009 לעדה יונת, ונקטרמן רמאקרישנן ותומאס סטייץ, נעשה אף הוא באמצעות קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן.

קישורים חיצוניים

מדיה וקבצים בנושא קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן בוויקישיתוף

• מערך שיעור בנושא עקיפה של קרני רנטגן (באנגלית)
• מאיר ברק, מהי קריסטלוגרפיה וכיצד היא קשורה למציאת מבנה הריבוזום?, במדור "שאל את המומחה" באתר של מכון דוידסון לחינוך מדעי, 8 אוקטובר 2009
• הפקולטה למדעי החיים ע"ש מינה ואבררד גודמן
• קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן, דף שער בספרייה הלאומית

ערך זה הוא קצרמר בנושא פיזיקה. אתם מוזמנים לתרום לוויקיפדיה ולהרחיב אותו.