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La spectroscopie des rayons X rassemble plusieurs techniques de caractérisation spectroscopique de matériaux par excitation par rayons X. Trois familles de techniques sont le plus souvent utilisées.
Selon les phénomènes mis en jeu, on distingue trois classes :
Mécanisme | Nom en français | Nom en anglais | Excitation | Exemples | Détection |
---|---|---|---|---|---|
Spectrométrie d'absorption | Spectrométrie d'absorption des rayons X (SAX) | X-ray absorption spectroscopy (XAS) | Rayons X | XANES, EXAFS | Rayons X non absorbés |
Spectroscopie d'émission | Spectroscopie d'émission de rayons X (de) | X-ray emission spectroscopy (XES) | Radiations d'électrons | Rayons X émis | |
Spectroscopie d'émission de rayons X induite par des particules chargées | Particle induced X-ray emission (PIXE) | Radiations de particules chargés (ions) | Rayons X émis | ||
Spectroscopie de fluorescence | Spectrométrie de fluorescence des rayons X (SFX) | X-ray fluorescence spectroscopy (XRF) | Rayons X | Fluorescence de rayons X |
L'analyse se fait par l'une des deux méthodes suivantes :
La spectroscopie photoélectronique utilisant les rayons X comme source d’excitation est la spectrométrie photoélectronique X ou spectroscopie des rayons X de photoélectrons (X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) en anglais) aussi connue sous le nom de spectroscopie d'électrons pour l'analyse chimique (ESCA).
La spectroscopie électronique Auger (en) (AES) utilisant les rayons X comme source d’excitation est la spectroscopie électronique Auger induite par rayons X (X-ray induced Auger electron spectroscopy (XAES) en anglais).
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