Röntgendiffraktio
fysikaalinen ilmiö / From Wikipedia, the free encyclopedia
Röntgendiffraktio (lyhenne XRD, engl. x-ray diffraction) on ilmiö, jossa röntgensäteily diffraktoituu kiteestä. Säteilyn sirontakulma riippuu diffraktoivien tasojen välimatkasta. Siten röntgendiffraktio on myös materiaalitutkimuksen menetelmä, jolla saadaan tietoa kiteisten aineiden atomitason järjestyksestä, kiderakenteesta. Röntgendiffraktiota käytetään muun muassa mineraalien ja kemiallisten yhdisteiden tunnistamisessa sekä uusien materiaalien rakenteen tutkimuksessa.
Tähän artikkeliin tai sen osaan on merkitty lähteitä, mutta niihin ei viitata. Älä poista mallinetta ennen kuin viitteet on lisätty. Voit auttaa Wikipediaa lisäämällä artikkelille asianmukaisia viitteitä. Lähteettömät tiedot voidaan kyseenalaistaa tai poistaa. |
Röntgendiffraktiomenetelmällä voidaan tarkoittaa jauhediffraktiomenetelmää, missä näyte on kiteistä jauhetta, tai se voi viitata röntgendiffraktioon yksittäiskiteestä. Molemmat menetelmät perustuvat samaan diffraktioilmiöön. Röntgenkristallografialla tarkoitetaan kiderakenteen tutkimista röntgendiffraktion avulla. Yleensä hyvin tarkkaa tietoa kiderakenteesta saa vain yksittäiskiteestä tehdyistä mittauksista.