Tunneling Microscopy—From Birth to Adolescence, Rev. of Mod. Phys, Vol 59, No. 3, Part 1 1987, P 615 Peter Eaton, Paul West, AtomicForceMicroscopy, Oxford
اسکن MFM اغلب از حالت میکروسکوپ نیروی اتمی AFM (به انگلیسی: َAtomicForceMicroscopy) غیرتماسی (NC - AFM)استفاده میکند. در میکروسکوپ نیروی مغناطیسی،