![cover image](https://wikiwandv2-19431.kxcdn.com/_next/image?url=https://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/f/f0/Atomic_Force_Microscope_1.jpg/640px-Atomic_Force_Microscope_1.jpg&w=640&q=50)
میکروسکوپ نیروی اتمی
From Wikipedia, the free encyclopedia
میکروسکوپ نیروی اتمی* یا میکروسکوپ نیرویی روبشی (به انگلیسی: SFM:Scanning Force microscope) در سال ۱۹۸۶ توسط کوئِیْت، بنیگ و گربر* اختراع شد. مانند تمام میکروسکوپهای پراب پویشی* دیگر، میکروسکوپ نیروی اتمی از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونهٔ تحت بررسی حرکت میکند، استفاده میکند.
![](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/f/f0/Atomic_Force_Microscope_1.jpg/640px-Atomic_Force_Microscope_1.jpg)
در مورد میکروسکوپ نیروی اتمی، نوکی* بر روی کانتیلیور (اهرم) وجود دارد که در اثر نیروی بین نمونه و نوک خم میشود. عکس شماره ۱ طرز کار یک میکروسکوپ نیروی اتمی را نشان میدهد.
![](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/7/7c/Atomic_force_microscope_block_diagram.svg/640px-Atomic_force_microscope_block_diagram.svg.png)
با خم شدن کانتیلیور، انعکاس نور لیزر بر روی آشکارسازنوری* جابجا میشود. بدین ترتیب میتوان جابجایی نوک کانتیلیور را اندازهگیری کرد. از آنجایی که کانتیلیور در جابجاییهای کوچک از قانون هوک پیروی میکند، از روی جابجایی کانتیلیور میتوان نیروی برهمکنش بین نوک و سطح نمونه را بدست آورد. و از روی نیروی بین اتمهای سطح نمونه و پراب، میتوان فاصلهٔ بین نوک و سطح نمونه، یا همان ارتفاع آن قسمت از نمونه را بدست آورد.
حرکت پراب بر روی نمونه توسط دستگاه موقعیتیاب بسیار دقیقی انجام میشود که از سرامیکهای پیزوالکتریک ساخته میشود. این پویشگر توانایی حرکت در مقیاس زیر آنگستروم را دارد.
![](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/f/f6/Atomic_force_microscope_by_Zureks.jpg/320px-Atomic_force_microscope_by_Zureks.jpg)
شکل ۲ یکی از عکسهای بدست آمده توسط میکروسکوپ نیروی اتمی را نشان میدهد.