Skenirajući elektronski mikroskop (SEM) je vrsta elektronskog mikroskopa[1] koji proizvodi slike uzorka skeniranjem površine fokusiranim snopom elektrona.[2] Elektroni stupaju u interakciju s atomima u uzorku, proizvodeći različite signale koji sadrže informacije o topografiji površine i sastavu uzorka. Elektronski snop se skenira u rasterskom uzorku skeniranja, a položaj snopa se kombinuje sa intenzitetom detektovanog signala kako bi se dobila slika. U najčešćem SEM modu, sekundarni elektroni koje emituju atomi pobuđeni elektronskim snopom detektuju se pomoću sekundarnog detektora elektrona (Everhart-Thornley detektor ). Broj sekundarnih elektrona koji se mogu detektovati, a samim tim i intenzitet signala, zavise, između ostalog, od topografije uzorka. Neki SEM-ovi mogu postići rezolucije veće od 1 nanometra.
![Thumb](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/a/a4/Misc_pollen.jpg/640px-Misc_pollen.jpg)
![Thumb](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/f/f0/First_Scanning_Electron_Microscope_with_high_resolution_from_Manfred_von_Ardenne_1937.jpg/320px-First_Scanning_Electron_Microscope_with_high_resolution_from_Manfred_von_Ardenne_1937.jpg)
Uzorci se posmatraju u visokom vakuumu u konvencionalnom SEM-u, ili u niskom vakuumu ili vlažnim uslovima u promjenljivom pritisku ili SEM-u okoline, i pri širokom rasponu kriogenih ili povišenih temperatura sa specijalizovanim instrumentima.[3]
Wikiwand in your browser!
Seamless Wikipedia browsing. On steroids.
Every time you click a link to Wikipedia, Wiktionary or Wikiquote in your browser's search results, it will show the modern Wikiwand interface.
Wikiwand extension is a five stars, simple, with minimum permission required to keep your browsing private, safe and transparent.