Mikroskopija skenirajućom sondom (MSS) (engl. Scanning Probe Microscopy - SPM) je oblast mikroskopije koja se zasniva na upotrebi mjernog uređaja neke fizičke veličine (sonda), čijim se relativnim kretanjem u odnosu na snimani uzorak (skeniranje) vrši mjerenje vrijednosti fizičke veličine u ravnomerno raspoređenim tačkama uzorka. Na tom osnovu se rekonstruiše izgled površine (mjerene fizičke veličine) za cijeli uzorak.
 | Ovaj članak ili neki od njegovih odlomaka nije dovoljno potkrijepljen izvorima (literatura, veb-sajtovi ili drugi izvori). |
Na principu MSS rade savremeni elektronski mikroskopi, ali i mikroskop atomskih sila i skenirajući tunelski mikroskop. Razlika između ovih tehnologija je u konstrukciji sonde i izboru fizičke veličine na osnovu koje se vrši rekonstrukcija izgleda uzorka.
- Mikroskopija skenirajućom sondom, autor John W. Cross Arhivirano 10. 4. 2008. na Wayback Machine
- Mikroskopija skenirajućom sondom, na Institute of Food Research Arhivirano 5. 5. 2010. na Wayback Machine
- Karakterizacija u nanotehnologiji, pojedini pdf
- Osvrt na STM/AFM/SNOM principe, sa obrazovnim Flash animacijama
- SPM Image Gallery - AFM STM SEM MFM NSOM i drugi
- Kako SPM radi
- SPM Scan Image Galerija
- SPM Glosar
- SPM galerija: surface scans, collages, artworks, desktop wallpapers Arhivirano 23. 6. 2012. na Wayback Machine
- SPM Applications: Image Gallery
- SPM Scan Image Galerija
- SPM Scan Image Galerija
Wikiwand in your browser!
Seamless Wikipedia browsing. On steroids.
Every time you click a link to Wikipedia, Wiktionary or Wikiquote in your browser's search results, it will show the modern Wikiwand interface.
Wikiwand extension is a five stars, simple, with minimum permission required to keep your browsing private, safe and transparent.
