Атомно-силов микроскоп
Тип микроскопия / From Wikipedia, the free encyclopedia
Атомно-силов микроскоп (АСМ, на английски: AFM – atomic-force microscope) е микроскоп с висока разделителна способност, основан на взаимодействието на сонда (тънко острие) с повърхността на изследвания образец. Това взаимодействие се изразява в привличане или отблъскване на сондата от повърхността, дължащо се на силите на Ван дер Ваалс. Чрез използването на специални остриета могат да бъдат изучавани електрическите и магнитните свойства на повърхностите. За разлика от сканиращия тунелен микроскоп, с помощта на АСМ могат да се изследват както проводящи, така и непроводящи повърхности. Освен това с АСМ може да се измерва и релефът на образец, потопен в течност, което позволява да се работи с органични молекули, включително ДНК. Пространствената разделителна способност на атомно-силовия микроскоп зависи от радиуса на кривината на острието и по вертикала достига атомарни размери, а по хоризонтала е значително по-голямо.